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新聞中心適用于4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)
吉時(shí)利儀器公司(Keithley Instruments Inc.)日前發(fā)布6.1版交互式KTEI，暨功能強(qiáng)大的KTEI(吉時(shí)利交互式測試環(huán)境)測試軟件之最新版本，適用于4200-SCS半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)。新版KTEI V6.1軟件增強(qiáng)了吉時(shí)利4200-PIV的脈沖I-V能力，并顯著改進(jìn)脈沖和DC測量的相關(guān)性。
脈沖測試正成為日益重要的新特性分析技術(shù)。高速脈沖避免了自加熱效應(yīng)可能造成的損壞，并應(yīng)用于新半導(dǎo)體材料和器件的特性分析，例如高k柵層疊特性分析中的電荷俘獲。吉時(shí)利4200-PIV包將4200-SCS的能力擴(kuò)展至包含脈沖發(fā)生和分析的領(lǐng)域，適用于材料和器件特性分析。
此外，KTEI V6.1集成了用于吉時(shí)利3400脈沖發(fā)生器的驅(qū)動(dòng)程序，該驅(qū)動(dòng)程序使吉時(shí)利4200-SCS能無縫集成3400脈沖發(fā)生器到測試環(huán)境中實(shí)現(xiàn)多種脈沖功能。KTEI V6.1為易用、可現(xiàn)場安裝的軟件升級(jí)。
本次最新發(fā)布的KTEI軟件實(shí)踐了吉時(shí)利的一貫承諾，即不斷改進(jìn)其功能強(qiáng)大的測量工具，并提供只需極低成本的升級(jí)和遷移路徑。吉時(shí)利尤其注重用戶投資保護(hù)，旨在幫助用戶簡單升級(jí)所需軟件或硬件，而非每隔幾年就購買一套完整的新硬件裝置。
