

廣州市美達(dá)克數(shù)據(jù)科技有限公司
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新聞中心吉時利DMM7510數(shù)字萬用表應(yīng)用指南
吉時利DMM7510七位半高速數(shù)字萬用表,集高精度、高分辨率數(shù)字萬用表、圖形觸摸屏顯示器和高速、高分辨率數(shù)字化器于一身,是第一款圖形采樣萬用表??删_捕捉流入待測件的電流并繪制波形,同時對原始數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計算,提供統(tǒng)計值和電量信息,讓您了解可攜帶裝置的真實功耗狀況。

吉時利DMM7510數(shù)字萬用表應(yīng)用領(lǐng)域與操作指南
1. 元器件精密測試
●應(yīng)用: 精密電阻、熱敏電阻、二極管、LED、電容器、電感器的特征分析。
●操作指南:
?使用內(nèi)置的“元件測試”功能:菜單 > 元件 > 選擇類型(如二極管)。
?配置源和測量:例如,對二極管,可設(shè)置掃描電壓,同時測量電流和電壓。
?觸發(fā)模式: 使用“定時”或“外部觸發(fā)”進(jìn)行自動化多點測試。
?直接在屏幕上查看I-V曲線,無需連接電腦。
?利用圖形化數(shù)學(xué)功能,直接從曲線計算動態(tài)電阻、開啟電壓等參數(shù)。
2. 半導(dǎo)體器件特性分析
●應(yīng)用: 晶體管(BJT、FET)的傳輸特性、輸出特性曲線,功率器件的導(dǎo)通電阻測試。
●操作指南:
?結(jié)合 SMU(源測量單元)選件(如插槽模塊)使用效果最佳,可為被測器件提供源并同步測量。
?構(gòu)建掃描測試:使用“測試腳本”或通過前面板配置,對柵極/基極電壓(Vgs/Vbe)進(jìn)行步進(jìn)掃描,在每個步進(jìn)下掃描漏極/集電極電壓(Vds/Vce),并測量電流(Id/Ic)。
?圖形化顯示家族曲線,并利用光標(biāo)測量閾值電壓、跨導(dǎo)等關(guān)鍵參數(shù)。
3. 傳感器信號捕獲與記錄
●應(yīng)用: 溫度(熱電偶、RTD)、壓力、應(yīng)變片等傳感器的長期監(jiān)測或瞬態(tài)響應(yīng)。
●操作指南:
?低速數(shù)據(jù)記錄: 使用內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄功能,設(shè)定采樣間隔(如1秒/次),保存至U盤或內(nèi)部存儲器,可記錄數(shù)天甚至數(shù)月。
?高速瞬態(tài)捕獲: 切換到“數(shù)字化儀”模式,設(shè)置高采樣率(如50 kS/s)來捕捉傳感器上電、受沖擊或快速變化的瞬間。
?利用內(nèi)置數(shù)學(xué)和統(tǒng)計功能,實時計算平均值、最大值、最小值、標(biāo)準(zhǔn)差。
4. 電源噪聲與紋波測量
●應(yīng)用: 開關(guān)電源(SMPS)、LDO輸出紋波和噪聲的精確評估。
●操作指南:
?連接:使用同軸電纜或屏蔽線,并盡量縮短接地回路。可利用“隔直”功能或交流耦合。
?模式選擇:進(jìn)入“數(shù)字化儀”模式,選擇適當(dāng)?shù)牧砍?通常為毫伏級)。
?觸發(fā)設(shè)置: 設(shè)置為“邊沿觸發(fā)”,在信號穩(wěn)定后開始捕獲。
?分析: 捕獲波形后,使用圖形化FFT(快速傅里葉變換)功能分析噪聲的頻率成分。使用光標(biāo)測量峰峰值紋波電壓。
5. 電流消耗分析(功耗分析)
●應(yīng)用: 物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備、手機(jī)等低功耗設(shè)備的功耗分析,捕捉休眠、喚醒、發(fā)射等不同模式下的微安級甚至納安級電流脈沖。
●操作指南:
?這是DMM7510的強(qiáng)項。使用“數(shù)字化儀”模式測量電流。
?配置低電流量程(如1 mA或10 mA量程),以獲得最佳分辨率。
?設(shè)置高采樣率(如100 kS/s以上),以確保捕獲到窄電流脈沖。
?利用“觸發(fā)”功能(如脈沖寬度觸發(fā))穩(wěn)定捕獲特定事件。
?分析: 測量不同狀態(tài)的平均電流,計算整個工作周期的總平均功耗。
何時選用吉時利DMM7510數(shù)字萬用表?
當(dāng)您遇到以下情況時,吉時利DMM7510數(shù)字萬用是理想選擇:
?需要“看到”信號而不僅僅是讀數(shù)(紋波、瞬態(tài)、脈沖)。
?需要在儀器上直接進(jìn)行初步數(shù)據(jù)分析(曲線、統(tǒng)計、FFT)。
?需要將高精度DC測量與動態(tài)信號捕獲合二為一,節(jié)省臺面空間和系統(tǒng)復(fù)雜度。
?需要進(jìn)行自動化元器件特征測試或低功耗分析。
通過熟練掌握其雙引擎(DMM+數(shù)字化儀)和強(qiáng)大的圖形化分析能力,DMM7510能解決從研發(fā)特性分析到生產(chǎn)測試、從故障診斷到長期監(jiān)測的廣泛挑戰(zhàn)。

